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激光掃描缺陷成像儀是激光束感應電流（LBIC）測試的升級版本。它利用波長能量大于半導體帶隙的激光束照射半導體，產生電子空穴對。通過快速掃描樣品表面，獲得揭示內部電流變化的圖像分布，從而分析各種缺陷分布。這有助于分析樣品制備的質量并有助于工藝改進。

光焱科技 QE-RX光伏電池效率損失分析儀 可用于高效太陽能電池研發。QE-RX 不僅可以測量 PV-EQE、反射率和 PV-IQE 數據，還可以通過結合分析軟件 SQ-JVFLA 分析 Jsc、Voc 和FF 損失。光焱在 QE-RX 內整合了三種不同的測試功能，并開發了 SQ-JVFLA 軟件，幫助用戶通過使用 Shockley-Queisser 熱極限理論分析三種不同的損失。

LQ-50X-EL 光焱科技電致發光效率測試系統 擁有以下幾點特色：采用單光子偵測技術、NIR 增強光學設計與組件、簡便的設計可與手套箱直接整合，能解決目前LED發展所面臨的挑戰。

傳統的量子效率系統在新型光電探測器面臨許多測試方法挑戰。光焱科技針對新世代的光電探測器 (PD) 提供了完整解決方案~命名為 PD-QE光譜響應測試與光電傳感器特性分析。

PD-RS光電器件響應測量與光偵測器可針對光電器件 (探測器或光伏器件) 進行光電轉換過程的響應行為測量與分析。

光電流、開路電壓的瞬態特性、載流子遷移率、載流子壽命、載流子動力學過程等是新型太陽電池器件的重要參數。由于新型太陽電池器件面積小、光電流小，非常難以準確測量出光電流隨時間的變化，鈣鈦礦太陽能電池瞬態光電流光電壓測試儀可對有機太陽能電池OPV、鈣鈦礦太陽能電池PSC、量子點太陽能電池、染料敏化太陽能電池DSSC、無機太陽能電池等光電器件進行微觀機理測試，進而全面分析光電器件中的載流子特性